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  • 元器件為什么會(huì)出現(xiàn)失效模式-失效模式的三種原因
    • 發(fā)布時(shí)間:2019-10-23 18:18:37
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    失效模式
    表14.2列出三種失效形式:
    ①開(kāi)路失效.
    ②漏電流/短路失效.
    ③特性劣化失效在器件制造中產(chǎn)生緣由.
    實(shí)踐上要用電學(xué)實(shí)驗(yàn)的方法將器件的失效形式別離開(kāi)是艱難的.
    即便①和②可以別離,①與③,②與③通常是同時(shí)發(fā)生的.
    失效模式
    外來(lái)因素引起的失效
    器件置于超越額定值*規(guī)定的運(yùn)用環(huán)境時(shí),會(huì)招致劣化、損傷。外來(lái)要素能夠羅列如下:
    (1)組裝到基板上時(shí):用戶的檢查環(huán)境、保管環(huán)境、靜電(ESD:electrostatic dis-charge)、基板裝置時(shí)器件的固定、裝置溫度、清潔劑成分等。
    (2)裝置完成后所加的電壓?電流:ESD,插件板實(shí)驗(yàn),電源動(dòng)搖,噪聲,信號(hào)的反射?耦合,電容成分的充放電,左近電感成分惹起的電動(dòng)勢(shì)等。
    外來(lái)因素惹起CMOS器件的失效,主要是由過(guò)電壓或過(guò)電流(浪涌電壓?電流)惹起的。典型的現(xiàn)象是ESD(Electro Static Discharge,靜電放電))和Latch-up(閂鎖)。
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