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  • 金屬氧化物壓敏電阻的組成-特性與操作
    • 發(fā)布時間:2020-04-20 18:20:50
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    金屬氧化物壓敏電阻的組成-特性與操作
    金屬氧化物壓敏電阻
    壓敏電阻電流與氧化鋅(ZnO)和碳化硅(SiC)器件的電壓曲線圖
    最常見的現(xiàn)代型壓敏電阻是金屬氧化物壓敏電阻(MOV)。這種類型含有氧化鋅顆粒的陶瓷塊,在其它金屬氧化物的基質(zhì)中,例如少量的鉍,鈷,錳氧化物,夾在兩個金屬板之間,構(gòu)成器件的電極。每個晶粒和相鄰元件之間的邊界形成二極管結(jié),這允許電流僅在一個方向上流動。隨機取向的晶粒的累積在電學(xué)上等效于背對背二極管對的網(wǎng)絡(luò),每對與許多其他對并聯(lián)。
    當(dāng)在電極上施加小電壓時,僅通過二極管結(jié)的反向泄漏引起微小電流流動。當(dāng)施加大電壓時,二極管結(jié)由于熱電子發(fā)射和電子隧穿的組合而破壞,導(dǎo)致大電流流動。這種行為的結(jié)果是非線性電流 - 電壓特性,其中MOV在低電壓時具有高電阻而在高電壓時具有低電阻。
    電氣特性
    壓敏電阻在正常工作期間保持不導(dǎo)電作為分流模式器件,當(dāng)其上的電壓保持遠低于其“鉗位電壓”時,變阻器通常用于抑制線電壓浪涌。壓敏電阻可能由于兩個原因而失敗。
    由于沒有成功地限制雷擊等事件引起的非常大的浪涌,所以發(fā)生災(zāi)難性故障,其中所涉及的能量比壓敏電阻能夠處理的能量高許多個數(shù)量級。由撞擊產(chǎn)生的后續(xù)電流可能使壓敏電阻熔化,燃燒甚至蒸發(fā)。這種熱失控是由于單個晶界連接處缺乏一致性,當(dāng)瞬態(tài)脈沖中的能量(通常以焦耳為單位測量)時,導(dǎo)致熱應(yīng)力下主導(dǎo)電流路徑的失效)太高(即顯著超過制造商的“絕對最大額定值”)。通過提高額定值或并行使用特別選擇的MOV,可以降低災(zāi)難性故障的可能性。
    隨著更多浪涌發(fā)生,累積降級發(fā)生。由于歷史原因,許多MOV被錯誤地指定,允許頻繁的膨脹也降低容量。在這種情況下,壓敏電阻沒有明顯損壞,并且向外看起來功能正常(沒有災(zāi)難性故障),但它不再提供保護。最終,它進入短路狀態(tài),因為能量放電通過氧化物產(chǎn)生導(dǎo)電通道。
    影響壓敏電阻器壽命的主要參數(shù)是其能量(焦耳)等級。增加能量等級可以提高它可以指數(shù)地容納的(定義的最大尺寸)瞬態(tài)脈沖的數(shù)量以及來自鉗位較小脈沖的累積能量總和。當(dāng)這些脈沖發(fā)生時,它在每次事件期間提供的“鉗位電壓”降低,并且當(dāng)其“鉗位電壓”改變10%時,通常認為變阻器在功能上降級。制造商的預(yù)期壽命圖表涉及電流,嚴(yán)重程度和瞬態(tài)數(shù)量,以根據(jù)零件壽命期間消耗的總能量進行故障預(yù)測。
    在消費電子產(chǎn)品中,特別是電涌保護器中,采用的MOV壓敏電阻尺寸足夠小,最終會出現(xiàn)故障。其他應(yīng)用,例如電力傳輸,在多個配置中使用不同結(jié)構(gòu)的VDR,設(shè)計用于長壽命。
    金屬氧化物壓敏電阻
    高壓壓敏電阻圖
    額定電壓
    MOV根據(jù)它們可以承受的電壓范圍指定而不會損壞。其他影響壓敏電阻的重要參數(shù)是能量等級,單位為焦耳,工作電壓,響應(yīng)時間,最大電流和擊穿(鉗位)電壓。能量等級通常使用標(biāo)準(zhǔn)化瞬態(tài)來定義,例如8/20微秒或10/1000微秒,其中8微秒是瞬態(tài)的正面時間,20微秒是到半值的時間。
    電容
    消費者大小(直徑7-20毫米)壓敏電阻的典型電容范圍為100-2,500 pF。較小的低電容壓敏電阻可提供~1 pF的電容,用于微電子保護,例如蜂窩電話。然而,這些低電容壓敏電阻器由于其緊湊的PCB安裝尺寸而無法承受大的浪涌電流。
    響應(yīng)時間
    MOV的響應(yīng)時間未標(biāo)準(zhǔn)化。亞納秒MOV響應(yīng)聲明基于材料的固有響應(yīng)時間,但會因其他因素(如元件引線的電感和安裝方法)而減慢。與具有8μs上升時間的瞬態(tài)相比,響應(yīng)時間也被認定為無關(guān)緊要,從而允許設(shè)備有足夠的時間緩慢開啟。當(dāng)受到非常快的<1 ns上升時間瞬變時,MOV的響應(yīng)時間在40-60 ns范圍內(nèi)
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